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文献
刊名
科技新时代
作者
夏杭杰
单位
深圳市旗云智能科技有限公司 广东省 深圳市 518109
年,卷(期)
2023年,第10期
主办单位
北京卓众出版有限公司
国内刊号
CN11-3750/N
国际刊号
ISSN1006-981X
入库时间
2023-11-15
电子元器件质量与可靠性技术探究
作者:夏杭杰
时间:2023-11-15
阅读:1788
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摘要:信息化时代背景下,科研领域各类研发系统的质量,直接取决于电子元器件在质量与可靠性层面的水准,可靠性属于保质保量体系中的核心环节,受到工业、学术等各界的热点关注。文章主要针对电子元器件在质量以及可靠性技术层面展开探讨,首先分析了电子元器件质量和可靠性技术的价值,其次着重论述了电子元器件可靠性技术的评估方法,以供参考。
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